淺談繞組變形測試儀的局部變形情況

　　繞組變形測試儀的局部壓縮和拉開(kāi)變形一般認為是由于電磁作用力造成的，由于同方向的電流產(chǎn)生的斥力，在線(xiàn)圈兩端被壓緊時(shí)，這種斥力會(huì )將個(gè)別墊塊擠出，造成部分被擠壓，而部分被拉開(kāi)。

　　

　　這種變形在兩端壓釘未動(dòng)的條件下，一般不會(huì )牽動(dòng)引線(xiàn)，這種變形一般只改變餅間的距離(軸向)，在等值電路中體現在并聯(lián)電感上的電容的改變上。

　　

　　引線(xiàn)未被牽動(dòng)力的條件下，頻譜的高頻部分將變化很小。線(xiàn)圈整體并未被壓縮，只有部分餅間距離拉開(kāi)，部分餅間距離壓縮。當我們從繞組變形測試儀上可以看到，有部分諧振峰向高頻方向移動(dòng)，并伴隨著(zhù)峰值下降；而有部分諧振峰向低頻方向移動(dòng)，并伴隨著(zhù)峰值升高。

　　

　　變形面積和變形程度可以通過(guò)比較諧振峰點(diǎn)明顯移動(dòng)所處的位置，及諧振峰的移動(dòng)量來(lái)估計分析。局部壓縮和拉開(kāi)變形影響到引線(xiàn)時(shí)，頻譜圖的高頻部分將發(fā)生變化。

　　

　　如果線(xiàn)圈發(fā)生金屬性匝間短路，線(xiàn)圈的整體電感將會(huì )明顯下降，線(xiàn)圈對信號的阻礙大大減小。對應到頻譜圖，其低頻段的諧振峰將會(huì )明顯的向高頻方向移動(dòng)，同時(shí)由于阻礙減小，頻響曲線(xiàn)在低頻段將會(huì )向衰減減小的方向移動(dòng)，即曲線(xiàn)上移2odB以上；另外由于Q值下降，頻譜曲線(xiàn)上諧振峰谷間的差異將減少。

　　

　　在電動(dòng)力作用下，線(xiàn)圈向兩端頂出，在受到兩端壓迫時(shí)，被迫從中間變形，若繞組變形測試儀的裝配間隙較大或有撐條受迫移位，則線(xiàn)圈在軸向扭成S形;這種變形由于兩端未變動(dòng)，所以只改變了部分餅間電容和部分對地電容。